一种用于SiCp/Al复合材料缺陷超声精准定量检测的模拟...
授权
摘要
本实用新型的目的在于提供一种用于SiCp/Al复合材料缺陷超声精准定量检测的模拟试块，用于检测铝基复合材料，所述模拟试块包括本体、平底孔和填充物，其中：所述本体呈等宽阶梯状，包括3个以上阶梯，且每个阶梯均设有孔径相同的平底孔，在中间的阶梯上并列设有三个平底孔，其中一个平底孔不填充材料，另两个平底孔分别填充不同的填充物，所述填充物分别为Al柱和SiCp/Al复合材料。该模拟试块对于SiCp/Al复合材料中特有的缺陷类型(SiCp团聚、偏析、Al线)检测效果良好。
基本信息
专利标题 ：
一种用于SiCp/Al复合材料缺陷超声精准定量检测的模拟试块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020135660.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-21
授权号 ：
CN212301443U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
李通廉德良
申请人 ：
中国科学院金属研究所
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
代理机构 ：
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司
代理人 ：
张晨
优先权 ：
CN202020135660.1
主分类号 ：
G01N29/30
IPC分类号 ：
G01N29/30 G01N29/09 G01N29/44 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/30
校准或比较，例如，用标准物体
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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