一种基于显微CT的孔缺陷定量检测方法
公开
摘要
本发明涉及印刷电路板技术领域，具体涉及一种基于显微CT的孔缺陷定量检测方法，该方法包括S1、采用显微CT系统获取待测样品孔的原始体数据，获得待测样品孔的三维CT数据图；S2、在孔径方向上对待测样品孔的三维CT数据图进行切片，使用图像滤波、图像增强、形态学顶帽及底帽处理算法、灰度化对切片进行处理，获得对比度增强的切片灰度图；S3、在孔深方向上提取每层切片灰度图的孔；S4、利用构成待测样品孔的切片灰度图，检测孔口缺陷、孔内缺陷或孔壁缺陷，该孔缺陷定量检测方法无需破坏样品即可定量检测孔口缺陷、孔内缺陷或孔壁缺陷，其具有检测速度快、检测精确度高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种基于显微CT的孔缺陷定量检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114519697A
申请号 ：
CN202210039337.8
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑李娟罗杨泉王成勇须颖黄欣
申请人 ：
广东工业大学
申请人地址 ：
广东省广州市东风东路729号
代理机构 ：
广州市时代知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
梁美玲
优先权 ：
CN202210039337.8
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/13 G06T7/246 G06T5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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