定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法

专利权的终止未缴年费专利权终止

摘要

本发明是一种定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法。由磁化器、漏磁检测器、位移测量与编码器、信号预处理器、模／数转换器、计算机辅助分析系统等组成。漏磁检测器由一对或一对以上的聚磁环和一个或一个以上的磁敏感元件组成，安置在磁化器极靴的中间，聚磁环上有凸台。位移测量与编码器与磁化器和漏磁检测器固联在一起，每隔一定空间间隔向模／数转换器和计算机辅助分析系统发出一个触发脉中，由计算机记录检测信号输出缺陷的实际情况。

基本信息

专利标题：

定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1089033A

申请号：

CN92115277.9

公开（公告）日：

1994-07-06

申请日：

1992-12-30

授权号：

CN1040797C

授权日：

1998-11-18

发明人：

康宜华杨克冲黄锐卢文祥杨叔子

申请人：

华中理工大学

申请人地址：

430074湖北省武汉市武昌珞喻路151号

代理机构：

华中理工大学专利事务所

代理人：

杨为国

优先权：

CN92115277.9

主分类号：

G01N27/82

IPC分类号：

G01N27/82