平面状构件的缺陷检测装置

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摘要

本实用新型提供了一种平面状构件的缺陷检测装置，包括：壳体、设于所述壳体内的磁信息传感器，以及环境磁场产生结构；所述壳体的第一侧面具有与所述平面状构件表面相匹配的检测平面，所述环境磁场产生结构位于所述壳体的第二侧面，所述第二侧面与所述第一侧面平行；所述磁信息传感器包括蝶体结构与两组蝶翼结构，所述蝶体结构包括长条状的空心骨架与绕制于所述空心骨架外表面的蝶体线圈，每组蝶翼结构包括N个能够导磁的蝶翼环；所述空心骨架具有贯穿所述空心骨架两端的中空通孔；每个蝶翼环的第一端均自所述中空通孔的第一端穿入所述中空通孔，每个蝶翼环的第二端均自所述中空通孔的第二端穿入所述中空通孔。

基本信息

专利标题：

平面状构件的缺陷检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020944536.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-29

授权号：

CN212622390U

授权日：

2021-02-26

发明人：

罗纲杨晓序

申请人：

冷丘（上海）物联网科技有限公司

申请人地址：

上海市杨浦区政高路77号1301室

代理机构：

上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

徐海晟

优先权：

CN202020944536.X

主分类号：

G01N27/83

IPC分类号：

G01N27/83