一种光纤布拉格光栅外观缺陷检测及拉力测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光纤布拉格光栅外观缺陷检测及拉力测试装置,包括:机台;第一连接架,为弧形板状;升降机构,固定在机台上且与第一连接架连接并带动其升降;第二连接架,呈倒L形结构,其一端固定在机台上,另一端延伸至第一连接架的弧形中部上方;第一夹持机构,且用于夹持待检测的光纤布拉格光栅的一端;拉力测试组件,固定在机台上且位于第一连接架的弧形中部下方,其用于夹持待检测的光纤布拉格光栅的另一端和用于检测光纤布拉格光栅的拉力;电子显微镜组件,用于摄取待检测的光纤布拉格光栅表面的微观影像;显示器组件,与电子显微镜组件连接且用于呈现摄取的实时影像,该方案实施可靠,能同时完成光纤的外观缺陷检测与拉力测试。
基本信息
专利标题 :
一种光纤布拉格光栅外观缺陷检测及拉力测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020958904.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-29
授权号 :
CN212275637U
授权日 :
2021-01-01
发明人 :
周友源江锽
申请人 :
福州高意光学有限公司
申请人地址 :
福建省福州市晋安区福新东路253号中航技工业小区
代理机构 :
福州君诚知识产权代理有限公司
代理人 :
戴雨君
优先权 :
CN202020958904.6
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251 G01N3/08 G01N3/02 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2021-01-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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