一种芯片逻辑电平检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片逻辑电平检测装置，属于芯片检测技术领域。本实用新型包括16脚芯片IC座、电压跟随器电路、高低电平检测电路、窗口比较器电路、编码器模块、管脚切换模块、万用表；所述16脚芯片IC座与电压跟随器电路相连，电压跟随器电路分别与高低电平检测电路、窗口比较器电路、管脚切换模块相连，窗口比较器电路通过编码器模块与管脚切换模块连接，管脚切换模块与万用表连接。本实用新型提供一种芯片逻辑电平检测装置，通过在故障芯片的IC座安装检测电路检测芯片各管脚的电平，并通过发光二极管显示检测结果，根据检测结果将故障电压显示在万用表上。本实用新型结构简单，容易操作，检测效果好，结果显示浅显易懂。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片逻辑电平检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020997024.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
CN213023458U
授权日 ：
2021-04-20
发明人 ：
彭昱铭李恒赵磊薛晓军张国银王龙辉何阳董英闫自达杨文澳赵忠伟母德浪杨芮陈登湘
申请人 ：
昆明理工大学
申请人地址 ：
云南省昆明市五华区学府路253号（昆明理工大学）
代理机构 ：
昆明人从众知识产权代理有限公司
代理人 ：
何娇
优先权 ：
CN202020997024.X
主分类号 ：
G01R31/3177
IPC分类号 ：
G01R31/3177 G01R1/30 G01R1/04 G01R15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3177
•••逻辑运行的测试，例如用逻辑分析仪
法律状态
2021-04-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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