集成的电平检测芯片电路及应用
公开
摘要
本发明公开的集成的电平检测芯片电路及应用，通过将片外输入与参考电压比较获得选择信号，选择信号选择振荡电路输出方波传输，并经过缓冲器驱动片外显示模块，实现输入电平的检测，同时通过两位片外信号控制参考电压产生电路以实现不用应用环境下的使用，具有很高的集成度，用该电路芯片与简单外围器件搭建系统可以对不同电瓶电量状态的检测，可显著降低生产成本。
基本信息
专利标题 ：
集成的电平检测芯片电路及应用
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578151A
申请号 ：
CN202210035915.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张鹤玖吕楠余宁梅王曦王欣
申请人 ：
西安理工大学
申请人地址 ：
陕西省西安市碑林区金花南路5号
代理机构 ：
西安弘理专利事务所
代理人 ：
韩玙
优先权 ：
CN202210035915.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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