基于FPGA的芯片逻辑测试装置
公开
摘要
本发明公开了基于FPGA的芯片逻辑测试装置，包括测试机体和支撑腿，所述测试机体的底端安装有支撑腿，所述测试机体的底端安装有芯片放置组件，所述测试机体的底端安装有防护外框，所述测试机体的底端对应防护外框内侧位置处对称安装有两个滑动杆，本发明通过设置防护外框、滑动杆、卡接杆、透明板、挡杆、定位杆、卡接槽和限位橡胶块，将安装有芯片的PCB板放置在透明板的表面，使PCB板的边部卡接于卡接杆和挡杆的内侧，再将定位杆沿着透明板移动至PCB板的一边部，再将定位杆一端部的卡接槽与透明板边部卡接，将定位杆另一端部卡接于挡杆内侧，从而使定位杆固定，对PCB板进行限位，方便测试时芯片保持固定不易移动。
基本信息
专利标题 ：
基于FPGA的芯片逻辑测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563690A
申请号 ：
CN202210218756.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
钱裕香周春晓袁宝弟
申请人 ：
无锡市软测认证有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区景贤路52号1101
代理机构 ：
南京鼎傲知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘焕敏
优先权 ：
CN202210218756.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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