一种用于白光干涉仪与普通光学显微镜测量物体的平台
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于白光干涉仪与普通光学显微镜测量物体的平台，包括相机、相机支架座、滑轨和载物台，滑轨水平设置，其一端与白光干涉仪底座固定连接，相机支架座竖直固定安装在滑轨的另一端，相机可定位的上下移动的安装在相机支架座上；载物台可定位的水平滑动安装在滑轨上，且其可上下移动并定位。本实用新型的有益效果是结构紧凑，可有效调节载物台和待测物体的位置，以便白光干涉仪获得被测物体的高度数据及其微观信息。
基本信息
专利标题 ：
一种用于白光干涉仪与普通光学显微镜测量物体的平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021001691.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
CN212340165U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
秦襄培王世民陈林袁小龙徐瑞
申请人 ：
武汉工程大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
张力波
优先权 ：
CN202021001691.4
主分类号 ：
G01B9/02
IPC分类号 ：
G01B9/02 G01B9/04 G02B21/36 G01B11/06 G01B11/24 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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