一种平行X射线CT成像装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种平行X射线CT成像装置,包括:X射线管;X射线导管,包括一段抛物线聚焦导管和一段直线导管,直线导管内部布置有金属格栅;导管支架,固定设置在所述X射线导管的底部;用于接收X射线的高精度探测器。X射线管设置在所述抛物线聚焦导管的一侧,X射线管的光源位于抛物线聚焦导管的所在抛物线的焦点上。通过将点散射光反射为平行光,成像分辨率由探测器分辨率决定,而不由射线管的靶焦点尺寸决定,本实用新型采用高精度探测器即可达到高成像分辨率,因此可以采用大功率X射线管作为射线源穿透较厚的样品,缩短成像时间,大幅提高检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种平行X射线CT成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021026679.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN212622324U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
贡志锋马艳玲高建波张书彦詹霞王晨张鹏
申请人 :
东莞材料基因高等理工研究院;广东书彦材料基因创新科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区礼宾路1号松山湖控股大厦9楼
代理机构 :
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
葛燕婷
优先权 :
CN202021026679.9
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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