一种微电子器件检测平台
授权
摘要

本实用新型公开了一种微电子器件检测平台,包括主台,所述主台的顶部均匀开设有螺纹孔,所述主台顶部的后侧安装有两组固定机构,所述主台顶部的前侧安装有工作台机构,所述主台的下方设置有底板,所述底板的内部设置有移动板,且移动板的中部贯穿有第二转杆,所述第二转杆的两端皆通过内嵌轴承与底板内壁相连接,所述第二转杆的前端穿过底板内壁延伸至底板正面,所述第二转杆的前端焊接有第二旋钮,所述底板底端的四个面角处皆焊接有支脚。本实用新型可对任意机型的检测机器进行固定,具有可移动式工作台,大大提高了用户检测微电子器件的工作效率,并且用户可调整该装置的高度,具有良好的使用舒适度。

基本信息
专利标题 :
一种微电子器件检测平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021064411.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-11
授权号 :
CN212514654U
授权日 :
2021-02-09
发明人 :
习建平莫维斌
申请人 :
新干晶芯微电子科技有限公司
申请人地址 :
江西省吉安市新干县河西工业园(绿色科技返乡创业园)
代理机构 :
长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
匡治兵
优先权 :
CN202021064411.4
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R1/04  B25H1/16  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2021-02-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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