一种低功耗端子接入检测电路及电子设备
授权
摘要
本实用新型提供一种低功耗端子接入检测电路及电子设备，包括微控制器以及与微控制器电连接的外接电路，外接电路包括：接入电路，接入电路包括接入端子，当接入端子未接入负载时，外接电路中由电源VCC、第一电阻、第三电阻、第二电阻以及接入端子构成的回路待机功耗为零；当接入端子接入负载时，接入信号经外接电路被微控制器识别；第一下拉电阻，一端分别与接入电路和微控制器连接，另一端与电源地连接，下拉电阻作用为当接入端子接入负载时，降低整个外接电路的功耗。通过本检测电路不仅能够检测到端子上是否有负载接入，并且MCU内部可以不设置下拉电阻，通过外置下拉电阻节省整体检测电路的功耗，满足低功耗产品的超长待机需求。
基本信息
专利标题 ：
一种低功耗端子接入检测电路及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021117903.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-16
授权号 ：
CN213275787U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
刘满晋
申请人 ：
北京石头世纪科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区黑泉路8号1幢康健宝盛广场C座六层6016、6017、6018号
代理机构 ：
北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐华
优先权 ：
CN202021117903.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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