一种用于光学仪器的精度检测测量装置

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摘要

本实用新型提供一种用于光学仪器的精度检测测量装置，涉及精度检测技术领域，以解决现有的检测测量装置，由于粗调节螺旋柱的外侧壁凹凸不平，因此检测装置上的部件会有明显的跳动，否则易导致检测过程中出现误差，由于粗调节螺旋柱的外侧壁稍微凸起，粗调节螺旋柱的外侧壁不进行打磨，导致粗调节螺旋柱会成为废品的问题，包括设备板；所述设备板顶部平面的中部固定安装一个垂直向上的圆柱形固定柱。本实用新型中发现粗调节螺旋柱的外侧壁有凸起部分时，把打磨环套在粗调节螺旋柱上，利用打磨环内侧壁上的磨砂对粗调节螺旋柱上下移动，把粗调节螺旋柱凸起部分打磨，打磨好后再次用检测机构进行二次检测。

基本信息

专利标题：

一种用于光学仪器的精度检测测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021118569.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-17

授权号：

CN212059302U

授权日：

2020-12-01

发明人：

杨向通

申请人：

无锡信欧光电科技有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市宜兴经济技术开发区庆源大道88号景苑128创新产业园H1栋

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021118569.5

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00 G01D18/00