一种双落体绝对重力仪
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摘要
本实用新型公开了一种双落体绝对重力仪及测试方法，该双落体绝对重力仪包括支架、激光干涉仪、两个真空落体仓和数据采集器，激光干涉仪安装于支架上，两个真空落体仓分别设置于激光干涉仪的上下方，两个真空落体仓相对靠近的一端均设有能够透过光束的透视窗口，且二者内部均具有可相对其仓体自由落体的棱镜，激光干涉仪用于分别向两个真空落体仓的透视窗口发射竖直的光束，并分别接收由两个棱镜反射的光束，数据采集器与激光干涉仪电连接，用于采集激光干涉仪测得的两个棱镜的下落距离差值。优点：该装置去掉了传统绝对重力仪中结构最复杂的超低频隔振装置，解决了现有绝对重力仪受地面震动影响测量精度的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
一种双落体绝对重力仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021124998.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212207706U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
欧同庚胡远旺邹彤张黎蒋冰莉
申请人 ：
中国地震局地震研究所;武汉地震科学仪器研究院有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌区洪山侧路40号
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜展志
优先权 ：
CN202021124998.3
主分类号 ：
G01V7/00
IPC分类号 ：
G01V7/00 G01V7/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V7/00
测量引力场或波；重力勘探或探测
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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