一种同轴双落体异步下落式绝对重力仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种同轴双落体异步下落式绝对重力仪，包括真空仓、上角锥棱镜、下角锥棱镜、激光器、光路系统、光电探测部件和信号采集及处理器；真空仓内设有导轨组；上角锥棱镜和下角锥棱镜上下设置，并同轴分布，二者底端朝下，上角锥棱镜直径大于下角锥棱镜直径，二者滑动装于导轨组上；光路系统包括分束镜、合束镜、第一反射镜和第二反射镜，分束镜和合束镜分别置于上角锥棱镜左右两侧底端下方，分别位于下角锥棱镜左右两侧下方，第一反射镜和第二反射镜左右间隔设于分束镜和合束镜之间；激光器设于真空仓左侧，光电探测部件设于真空仓右侧，并与信号采集及处理器连接。优点：不需要复杂的隔震系统，能够得到高精度的绝对重力值，同时一体化的设计，使仪器的体积减小，利于流动观测。
基本信息
专利标题 ：
一种同轴双落体异步下落式绝对重力仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021122598.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212569175U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
欧同庚蒋冰莉邹彤张黎胡远旺
申请人 ：
中国地震局地震研究所;武汉地震科学仪器研究院有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌区洪山侧路40号
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜展志
优先权 ：
CN202021122598.9
主分类号 ：
G01V7/00
IPC分类号 ：
G01V7/00 G01V7/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V7/00
测量引力场或波；重力勘探或探测
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
