一种检验芯片功能是否正常的检测装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:位于待测芯片和两个USB连接器之间的以GPIO设置的一开关；所述的GPIO开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB_D+和USB_D‑两根差分线；所述的两个USB连接器分别为连接PC的第一USB连接器和连接U盘的第二USB连接器；所述两个USB连接器分别各有两个引脚引出的两根数据线能够与所述GPIO开关中的第一位置或第二位置相连接，通过控制GPIO开关决定连通两个USB连接器中的一个；当开关打到第一位置时，连通待测芯片与第一USB连接器进而通过数据线与PC连接，当开关打到第二位置时，连通待测芯片与第二USB连接器进而与U盘连接。本实用新型的结构简单。
基本信息
专利标题 ：
一种检验芯片功能是否正常的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021147820.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN212256292U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
任科飞
申请人 ：
北京君正集成电路股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西北旺东路10号院东区14号楼一层A101-A113
代理机构 ：
北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
聂鹏
优先权 ：
CN202021147820.0
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F13/38
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
