一种分布辐射度计
授权
摘要
本实用新型公开一种分布辐射度计,包括待测样品;第一转台,所述第一转台用于夹持所述待测样品在空间发生平移或旋转;宽带光探测单元和光谱辐射测量单元,所述光谱辐射测量单元的受光口离所述待测样品的距离小于所述宽带光探测单元离所述待测样品的距离;所述光谱辐射测量单元可在所述第一转台和所述宽带光探测单元之间切入和切出。本实用新型通过设置可切入切出光谱辐射测量单元,一方面可以缩短光谱辐射测量距离,获取到更全的光束能量,从而提高光谱测量准确度;另一方面,在进行测试时,可先使用光谱辐射测量单元确定待测样品波长范围,从而调整宽带光探测单元的校准系数。通过以上两方面来实现提高光分布测量准确度的技术效果。
基本信息
专利标题 :
一种分布辐射度计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021158792.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-22
授权号 :
CN212779566U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
潘建根何锋黄艳沈思月
申请人 :
杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区滨康路669号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021158792.2
主分类号 :
G01J3/443
IPC分类号 :
G01J3/443 G01J3/02 G01J1/00 G01J1/02 G01R31/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/443
发射光谱法
法律状态
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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