一种辐射计
专利权的终止
摘要

一种用于测量太阳和日照总辐射量的辐射计,包括机体,其特征在于,机体上端设置余弦修正片,余弦修正片能够修正测量中的余弦误差,机体中心支撑一个硅光探测器,硅光探测器设置在余弦修正片下面,硅光探测器具有光电转换的传感功能,对被测光起到光电转换作用,在机体侧面设置有信号输出导线孔,当有入射光照射时,硅光探测器将光信号转换为电信号,再经过余弦修正片的修正,使得余弦误差大大减小。本实用新型的辐射计设计科学,工艺精密,测量方便,余弦误差小,结果精确。

基本信息
专利标题 :
一种辐射计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720173173.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-17
授权号 :
CN201094100Y
授权日 :
2008-07-30
发明人 :
白素莲李成才马剑
申请人 :
北京华创维想科技开发有限责任公司
申请人地址 :
100070北京市丰台区南四环西路188号六区16号楼10层1003房间
代理机构 :
北京中海智圣知识产权代理有限公司
代理人 :
曾永珠
优先权 :
CN200720173173.9
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2016-11-09 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101687177010
IPC(主分类) : G01J 1/42
专利号 : ZL2007201731739
申请日 : 20070917
授权公告日 : 20080730
终止日期 : 20150917
2008-07-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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