超小光损失的测量方法

专利申请的视为撤回

摘要

测量超小光损失的方法。涉及光度学，纤维光学且涉及其他光学技术领域中对超小光损失的测量。其目的即提高测量精度是以下列方法保证的，即以频率f₀≥0.1ΔFcδ3/2来调制探测光辐射，形成测量和支持两路，将光辐射变换为电信号，以给定的失调时间Δt在由不等式所确定的时间过程τu中对信号进行积分。

基本信息

专利标题：

超小光损失的测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1053955A

申请号：

CN90100643.2

公开（公告）日：

1991-08-21

申请日：

1990-02-07

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

伏拉迪斯拉夫·尼科拉艾维奇·考洛摩斯里任科米哈依尔·亚历山德洛维奇·布克赫西他夫安德列·尤列艾维奇·吉雷洛夫安拉托里·米哈衣洛维奇·帕特洛夫安德列·亚历山德洛维奇·奥夫斯亚聂考夫

申请人：

中央通讯科学研究所列宁格勒分所

申请人地址：

苏联列宁格勒

代理机构：

上海专利事务所

代理人：

颜承根

优先权：

CN90100643.2

主分类号：

G01J1/18

IPC分类号：

G01J1/18 G01J1/42