自动曝光测量方法
专利权的终止
摘要
本发明提供一种自动曝光测量方法用以决定具有主体的图像的曝光值。本发明方法包括主体检测步骤以及曝光值计算步骤。主体检测步骤包括使用焦距值以检测图像的主体位置。曝光值计算步骤包括使用自动曝光计算函数计算图像的曝光值。本发明可提供较简单及精巧的测量方法。
基本信息
专利标题 ：
自动曝光测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101008764A
申请号 ：
CN200610006958.7
公开（公告）日 ：
2007-08-01
申请日 ：
2006-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林锦池罗瑞祥傅楸善朱峻贤
申请人 ：
致伸科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台北市
代理机构 ：
隆天国际知识产权代理有限公司
代理人 ：
王玉双
优先权 ：
CN200610006958.7
主分类号 ：
G03B13/36
IPC分类号 ：
G03B13/36 H04N5/232
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术
G03B
摄影、放映或观看用的装置或设备；利用了光波以外其他波的类似技术的装置或设备；以及有关的附件
G03B13/00
取景器；照相机聚焦的辅助装置；照相机的聚焦装置；照相机的自动聚焦系统
G03B13/32
聚焦装置
G03B13/34
电动聚焦
G03B13/36
自动聚焦系统
法律状态
2018-02-09 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G03B 7/08
申请日 : 20060126
授权公告日 : 20090211
终止日期 : 20170126
申请日 : 20060126
授权公告日 : 20090211
终止日期 : 20170126
2009-02-11 ：
授权
2007-09-26 ：
实质审查的生效
2007-08-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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