FPC功能测试装置
授权
摘要
本申请公开一种FPC功能测试装置，包括底座、支架、测试治具、升降机构和锁紧机构，测试治具包括用于测试FPC的治具下模和治具上模，升降机构设在支架和底座间并可沿竖直方向作往复运动，锁紧机构设置在升降机构和治具上模间用于与所述升降机构配合锁紧或松开所述治具上模，通过升降机构驱动治具上模沿垂直方向升降以进行测试，无须人工手动操作，锁紧机构可将治具上模可拆卸安装在升降机构上以便进行快速更换测试治具，本申请设置升降机构驱动治具上模进行升降，可减少人工操作，增加了自动化程度，提高测试效率以及检测精准度，对于不同类型的FPC测试产品，可通过锁紧机构实现快速更换对应的测试治具，达到节约成本的目的。
基本信息
专利标题 ：
FPC功能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021162172.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-20
授权号 ：
CN212723207U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
金太勇邓发明刘照平
申请人 ：
深圳凯鸿欣电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道坣岗社区松山工业区11栋一层
代理机构 ：
深圳市辉泓专利代理有限公司
代理人 ：
孟强
优先权 ：
CN202021162172.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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