系统功能测试装置
授权
摘要
本发明的系统功能测试装置包括第一定时器、第二定时器及处理器。第二定时器耦接第一定时器。处理器耦接第一定时器及第二定时器，且接收系统信号。第一定时器及第二定时器建立开机及关机测试时序。在开机及关机测试时序中，且系统信号包括错误信息时，处理器锁定第一定时器的状态，且停止开机及关机测试时序。
基本信息
专利标题 ：
系统功能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111829800A
申请号 ：
CN201910331230.9
公开（公告）日 ：
2020-10-27
申请日 ：
2019-04-23
授权号 ：
CN111829800B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
张顺凯黄彦舜郑君伍
申请人 ：
上银科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市南屯区精科路7号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
李佳
优先权 ：
CN201910331230.9
主分类号 ：
G01M99/00
IPC分类号 ：
G01M99/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M99/00
本小类其他组中不包括的技术主题
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2020-11-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 99/00
申请日 : 20190423
申请日 : 20190423
2020-10-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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