测量复合类材料涂层厚度的光学相干断层扫描成像设备

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了测量复合类材料涂层厚度的光学相干断层扫描成像设备，包括基座、机体、底板和夹板，所述基座的前表面底端设有第一滑槽，第一滑槽的内部滑动有第一滑轮，第一滑轮转动安装在底板的底端，所述底板的顶端固定安装有升降架，升降架的底端连接安装有电动推杆，底板的顶端固定安装有顶板，所述顶板顶表面内部开设有滑道，滑道的两侧开设有第二滑槽，第二滑槽的内部滑动有第二滑轮，两个第二滑轮的中间固定安装有轴杆。本实用新型在机体的前表面检测口处安装了一个可横向移动并且可以升降的平台，利用该平台将待检测的材料固定放置进行升起，便于后续工作人员从其表面拿取材料直接送入检测口内进行检测。

基本信息

专利标题：

测量复合类材料涂层厚度的光学相干断层扫描成像设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021176879.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-23

授权号：

CN212658221U

授权日：

2021-03-05

发明人：

周兰兰黄爱霞

申请人：

新昌县鸿吉电子科技有限公司

申请人地址：

浙江省绍兴市新昌县七星街道塔山村398号三楼

代理机构：

北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

宫建华

优先权：

CN202021176879.2

主分类号：

G01B15/02

IPC分类号：

G01B15/02 G01N23/046