时域光学相干层析成像系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种时域光学相干层析成像系统，本系统中弱相干光源依次连接光隔离器、光纤耦合器、偏振调节器、第一准直镜和光学延时线，第一准直镜的反射光经偏振调节器、光纤耦合器后输入光电探测器，形成光学延时线的光程差信号，振镜设于样品端，第二准直镜连接光纤耦合器并且光线入射至振镜，由振镜反射的扫描光在样品表面发生散射经振镜、第二准直镜、光纤耦合器后输入光电探测器，光电探测器输出信号传输至数据采集单元，数据采集单元连接数据处理单元；光学延时线由直线音圈电机、直角棱镜反射镜、柱面镜和反射镜构成，用于产生叠加光程差的光学延时信号。本系统保证光学延迟线运动速度平稳，为检测信号提供稳定的多普勒频差，保证检测精度。
基本信息
专利标题 ：
时域光学相干层析成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922347653.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-24
授权号 ：
CN211697497U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
祝永进杜海法申晖李有森陈阳
申请人 ：
上海雄博精密仪器股份有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区业绩路800号
代理机构 ：
上海天协和诚知识产权代理事务所
代理人 ：
沈国良
优先权 ：
CN201922347653.8
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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