全深度探测的频域光学相干层析成像装置
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置,包括低相干光源,在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直扩束器、迈克尔逊干涉仪,该迈克尔逊干涉仪的分光器将入射光分为探测臂光路和参考臂光路,参考臂光路的末端为参考反射镜,探测臂光路的末端为被测样品,被测样品放置在一个三维精密平移台上,迈克尔逊干涉仪输出端连接一光谱仪,该光谱仪通过图像采集卡和计算机连接,该装置的特点是所述的参考反射镜连接一正弦相位调制装置。本实用新型与现有技术相比具有抗环境干扰能力强,对光源波长无关和系统结构简单的优点。

基本信息
专利标题 :
全深度探测的频域光学相干层析成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620043657.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-07-05
授权号 :
CN2916623Y
授权日 :
2007-06-27
发明人 :
步鹏王向朝
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200620043657.7
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  A61B5/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2009-08-12 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 20060705
2007-06-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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