采用太赫兹光学自探测表征光频梳相干光谱的装置和方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种采用太赫兹光学自探测表征光频梳相干光谱的装置和方法,装置包括太赫兹量子级联激光器、IQ解调器、干涉仪、锁相放大器、拍频信号提取器、第一T型偏置器和第二T型偏置器。其中,所述待测太赫兹量子级联光频梳的出射光经过所述干涉仪发生干涉,耦合至所述太赫兹量子级联激光器谐振腔内,所述太赫兹量子级联激光器作为探测器测得光频梳模式间拍频的干涉信号。本发明不同于传统傅里叶变换光谱法测得的强度干涉谱,本发明测得是模式间拍频信号的干涉谱,对其进行傅里叶变换可得到光频梳的相干光谱,从而能够表征太赫兹量子级联光频梳梳齿之间的频率与相位信息。

基本信息
专利标题 :
采用太赫兹光学自探测表征光频梳相干光谱的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414522A
申请号 :
CN202111612383.4
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黎华管玟李子平曹俊诚
申请人 :
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
申请人地址 :
上海市长宁区长宁路865号
代理机构 :
上海泰博知识产权代理有限公司
代理人 :
钱文斌
优先权 :
CN202111612383.4
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/3581
申请日 : 20211227
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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