大探测深度的频域光学相干层析成像装置
专利权的终止
摘要

一种大探测深度的频域光学相干层析成像装置,包括一低相干光源,在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直透镜和迈克尔逊干涉仪,该迈克尔逊干涉仪包括分光器、样品臂和参考臂,参考臂包括参考臂物镜和参考反射镜,样品臂包括反射镜、样品臂物镜、待测样品和一个置放该待测样品的三维精密平移台;该迈克尔逊干涉仪的输出端连接一光谱仪,该光谱仪由组合衍射光栅、环面聚焦镜和光谱探测阵列组成,该光谱探测阵列通过多路图像采集与模数转换卡与计算机相连。本实用新型通过组合衍射光栅进行光谱折叠,增加了光谱探测的有效探测像素数N,提高了光学相干层析成像系统的探测深度和层析图的信噪比。

基本信息
专利标题 :
大探测深度的频域光学相干层析成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820054424.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-03
授权号 :
CN201139554Y
授权日 :
2008-10-29
发明人 :
丁超步鹏王向朝
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820054424.6
主分类号 :
A61B5/00
IPC分类号 :
A61B5/00  G01N21/45  
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B5/00
用于诊断目的的测量;人的辨识
法律状态
2012-03-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101201518533
IPC(主分类) : A61B 5/00
专利号 : ZL2008200544246
申请日 : 20080103
授权公告日 : 20081029
终止日期 : 20110103
2008-10-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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