线域频域光学相干层析检测及纵向坐标标定装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种线域频域光学相干层析检测及纵向坐标标定装置,线域频域光学相干层析装置包括钨卤素灯光源模块、迈克尔逊干涉仪模块、线光谱仪模块和计算机,钨卤素灯光源模块包括钨卤素灯光源和凸透镜,迈克尔逊干涉仪模块包括第一柱透镜、分光镜和参考镜,线光谱仪模块包括第二柱透镜、反射镜、反射式光栅、第三柱透镜和面阵相机,计算机与面阵相机电性连接;纵向坐标标定装置包括可调狭缝结构和用于驱动可调狭缝结构进行位移的狭缝位移平台,可调狭缝结构设于分光镜与待测样品之间的检测光路上,狭缝宽度可调。该装置可对待测样品进行线域检测,且可对装置的纵向坐标进行准确标定,确定线域频域光学相干层析检测的纵向坐标。

基本信息
专利标题 :
线域频域光学相干层析检测及纵向坐标标定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921111330.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-16
授权号 :
CN210294038U
授权日 :
2020-04-10
发明人 :
刘峰钟舜聪陈曼方波张秋坤
申请人 :
福州大学
申请人地址 :
福建省福州市闽侯县上街镇福州大学城学院路2号福州大学新区
代理机构 :
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 :
丘鸿超
优先权 :
CN201921111330.2
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/25  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-04-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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