光学相干层析设备的诊断检测方法、装置、系统
授权
摘要
本发明公开了一种光学相干层析设备的诊断检测方法，包括连续采集光学相干层析设备输出的多个干涉条纹数据；各个干涉条纹数据是光学相干层析设备的测量臂的光路上设置分别不同掩膜板时，光学相干层析设备对应生成的条纹数据；根据各个干涉条纹数据，获得待测人体组织的切片图像。本申请中将分别采用不同透光面积的掩模板设置在测量臂和待测人体组织之间的位置，以抑制外界环境对干涉条纹产生的不同强度扰动，光学系统获取信息的能力、提高所获得的人体组织切片检测图像的信噪比。本申请还提供了一种光学相干层析设备的诊断检测装置及系统，具有上述有益效果。
基本信息
专利标题 ：
光学相干层析设备的诊断检测方法、装置、系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111568385A
申请号 ：
CN202010529679.9
公开（公告）日 ：
2020-08-25
申请日 ：
2020-06-11
授权号 ：
CN111568385B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
安其昌刘欣悦张景旭李洪文唐境
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
薛娇
优先权 ：
CN202010529679.9
主分类号 ：
A61B5/00
IPC分类号 ：
A61B5/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/00
用于诊断目的的测量；人的辨识
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2020-09-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 5/00
申请日 : 20200611
申请日 : 20200611
2020-08-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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