一种X射线传感器自校正装置及X射线传感器
授权
摘要
本实用新型涉及一种X射线传感器自校正装置及X射线传感器,属于传感器设备技术领域,包括射线管和安装板,射线管包括射线管本体和凸出结构,凸出结构上设有射线口,安装板套设在凸出结构的外圈,并设有可转动至射线口的校正支架,校正支架上设有与射线口相适配的麦拉片,正常检测时,转动校正支架将校正支架从射线口移开,当需要校正时,再次转动校正支架,将麦拉片对准射线口,即可直接进行校正,校正方便,大大提高了片材的检测效率,同时还节约了另外安装麦拉片所占用的检测空间。
基本信息
专利标题 :
一种X射线传感器自校正装置及X射线传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021182250.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-23
授权号 :
CN212622054U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
杨帆周志辉杨克中
申请人 :
凯多智能科技(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市奉贤区环城北路539号3号楼
代理机构 :
上海领洋专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
罗晓鹏
优先权 :
CN202021182250.9
主分类号 :
G01N9/24
IPC分类号 :
G01N9/24 G01B15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重;通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/24
通过观察穿过材料的波的传播或粒子辐射
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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