一种上推下吸测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及一种上推下吸测试设备，包括工作台、上推机构和下吸机构，所述的工作台包括底座以及垂直安装在底座上的机箱，该机箱的上部向外侧延伸形成延伸部，在所述的延伸部上安装有控制面板以及与控制面板连接的声光报警灯。本实用新型的优点是：测试简便快速，测试的数据准确，对产品不会产生破坏产品。一机两用，即能检测装饰件，同样能检测镜片。
基本信息
专利标题 ：
一种上推下吸测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021195146.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-24
授权号 ：
CN212904184U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
魏威唐伟林
申请人 ：
东莞华清光学科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市长安镇长安振安西路311号
代理机构 ：
北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王科
优先权 ：
CN202021195146.3
主分类号 ：
G01N3/02
IPC分类号 ：
G01N3/02 G01N3/04 G01N3/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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