测试设备及其上料装置
授权
摘要
本申请公开了一种测试设备及其上料装置。所述上料装置包括：上料架，用于收容层叠设置的多个载盘；锁紧机构，用于锁定所述多个载盘中的部分载盘；收放机构，设置于所述上料架的下料口，用于在所述锁紧机构锁定所述多个载盘中的部分载盘时，允许未被锁定的所述载盘通过所述下料口，以及在所述锁紧机构未锁定所述多个载盘时，阻挡所述多个载盘通过所述下料口。通过上述方式，本申请能够提高上料装置的载量，可有效地降低补料频率。
基本信息
专利标题 ：
测试设备及其上料装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122353700.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-27
授权号 ：
CN216747960U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
梁晖陈小兵
申请人 ：
前海晶方云（深圳）测试设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室(入驻深圳市前海商务秘书有限公司)
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
任欢欢
优先权 ：
CN202122353700.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 B65G59/06 B65G47/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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