预烧测试装置及其预烧测试设备
授权
摘要

一种预烧测试装置及其预烧测试设备,包括有一预烧测试基板、多个加热组件、多个散热组件、多个低电压高电流转换模块以及一监控单元。预烧测试基板设有多个插座单元,每一加热组件分别设置于每一插座单元内,每一散热组件分别设置于该每一插座单元上,包括有多个鳍片、多个热管以及多个风扇,预烧测试基板上设置有多个温度传感组件、多个低电压高电流转换模块以及监控单元。因此,本实用新型可通过多种散热组件的配置方式,达到冷却降温的诉求,将预烧测试基板中因高负载的调变电流所产生高温积热一并带走。

基本信息
专利标题 :
预烧测试装置及其预烧测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921101410.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-15
授权号 :
CN210465614U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
刘大纲李明宪林宗毅
申请人 :
京元电子股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹市公道五路二段81号
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
汤宝平
优先权 :
CN201921101410.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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