一种PCB电路板测试结构
授权
摘要

本实用新型公开了一种PCB电路板测试结构,本实用新型涉及电路板测试技术领域,包括限定板和测试仪,所述测试仪位于限定板一侧位置处,所述限定板内壁两侧均开设有凹槽,所述凹槽内部转动连接有阻尼转轴,所述阻尼转轴环形外表面固定安装有若干个挡板,所述限定板内部中间位置处开设有贯通通槽,所述贯通通槽内部活动连接有抵触筒,所述限定板前表面中间位置处转动连接有转动杆,所述抵触筒内部开设有内置通槽,所述内置通槽内部转动连接有内置螺纹柱。该测试结构不仅能够将外部的电路板进行顶出,便于外部操作人员进行拾取,也能够有效的使外部测试笔与操作人员的手部充分束紧固定,避免测试笔掉落,导致电路板受到损坏。

基本信息
专利标题 :
一种PCB电路板测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021199178.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN212723211U
授权日 :
2021-03-16
发明人 :
唐维钱飞
申请人 :
杭州仁牧科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区启迪路198号B-308-013室
代理机构 :
杭州融方专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
沈相权
优先权 :
CN202021199178.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/02  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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