高分辨率主动结构光测量的折反射全向视觉系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种高分辨率主动结构光测量的折反射全向视觉系统，包括底座、顶盖、支撑杆、一个透视相机、多个网格激光器、曲面镜装置；所述底座和顶盖的同一侧分别有第一安装孔用于连接安装圆柱形支撑杆；底座中心位置有一个凹槽，所述凹槽按照透视相机尺寸设计，用来放置所述透视相机；底座外侧面有多个第二安装孔，所述多个第二安装孔均匀的分布在底座的侧面，分别用来放置所述多个网格激光器；顶盖的中心轴线、底座的中心轴线、曲面镜的中心轴线和透视相机光轴四轴共线。本实用新型结构紧凑，能有效减小视觉系统的尺寸规格；便于携带且易于安装。
基本信息
专利标题 ：
高分辨率主动结构光测量的折反射全向视觉系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021280320.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-02
授权号 ：
CN212871117U
授权日 ：
2021-04-02
发明人 ：
刘艳缪徐
申请人 ：
浙大城市学院
申请人地址 ：
浙江省杭州市拱墅区湖州街51号
代理机构 ：
浙江杭州金通专利事务所有限公司
代理人 ：
刘晓春
优先权 ：
CN202021280320.4
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-04-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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