用于电磁场近场探测的复合探头

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摘要

本实用新型一种用于电磁场近场探测的复合探头，所述复合探头由基板、磁场探头、电场探头和两个SMA接头组成；基板采用包括顶部铜箔层、底部铜箔层和至少两个中间铜箔层的印制电路板；顶部和底部铜箔层上制作有馈线结构；馈线结构与相应中间铜箔层构成背覆地共面波导；磁场探头和电场探头分别设置在基板的正面和背面；磁场探头、电场探头的末端与相应背覆地共面波导电气连接；背覆地共面波导前端设置有空气桥结构；背覆地共面波导的后端与SMA接头电气连接。本实用新型的有益技术效果是：提出了一种用于电磁场近场探测的复合探头，该复合探头能同步探测电场和磁场，探头能够明显的抑制谐振，结构紧凑，尺寸较小，便于操作、携带。

基本信息

专利标题：

用于电磁场近场探测的复合探头

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021331417.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-09

授权号：

CN212568960U

授权日：

2021-02-19

发明人：

郑伟肖珂李寅生

申请人：

重庆大学

申请人地址：

重庆市沙坪坝区沙正街174号

代理机构：

重庆乾乙律师事务所

代理人：

侯春乐

优先权：

CN202021331417.3

主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

G01R29/08 G01R29/12 G01R33/02