EMC近场电磁场检测设备

授权

摘要

本实用公开了EMC近场电磁场检测设备，包括近场探头，其特征在于：所述近场探头固定安装在四轴机械臂上，所述四轴机械臂固定安装在底座上，被测工件通过定位夹具固定安装在底座上，所述近场探头电性连接在控制装置上，所述控制装置分别电性连接在四轴机械臂和频谱分析仪上。本实用通过将近场探头固定安装在四轴机械臂上，通过控制装置发出信号控制四轴机械臂运动，能够实现近场探头在被测工件上方实现任意位置、任意轨迹、任意速度的检测，同时能够实现检测轨迹的精确定位，进而加快检测磁场的效率。

基本信息

专利标题：

EMC近场电磁场检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021806740.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-26

授权号：

CN213023345U

授权日：

2021-04-20

发明人：

刘兴家石然韩非李鹏萱

申请人：

商飞信息科技（上海）有限公司

申请人地址：

上海市徐汇区冠生园路223号20幢559室

代理机构：

上海骁象知识产权代理有限公司

代理人：

孙路生

优先权：

CN202021806740.1

主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

G01R29/08