一种集成有多路测试通道的故障注入箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成有多路测试通道的故障注入箱，包括：故障注入箱体、故障注入电路板、EDAC接头；所述故障注入箱体分别连接所述故障注入电路板与所述EDAC接头，所述故障注入电路板与所述EDAC接头通过线缆连接，所述故障注入电路板上连接有多个香蕉插座，所述多个香蕉插座用于将所述故障注入电路板进行断路，所述香蕉插座上分别螺纹连接有多个香蕉插头，所述香蕉插头用于将所述故障电路板由断路转换为通路。本实用新型可以满足多路故障的注入，提高对故障检测精度，增加适用范围。
基本信息
专利标题 ：
一种集成有多路测试通道的故障注入箱
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021331736.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-08
授权号 ：
CN213210202U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
张颖
申请人 ：
维尔世创（北京）科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区回龙观镇龙城北街3号院1号楼A座1608室
代理机构 ：
深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
杨贤
优先权 ：
CN202021331736.4
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/00 G01M17/007
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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