一种细长轴深孔壁厚测量装置

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摘要

本实用新型公开了一种细长轴深孔壁厚测量装置，包括检测台与检测器，所述检测台的下端四角均固定连接有支撑座，所述检测台的上端固定连接有两块竖板，所述检测台的上侧通过固定架固定连接有固定管，所述固定管内滑动连接有第一活动杆，所述检测器与第一活动杆的右端可拆卸连接，所述检测台的上侧设有对第一活动杆进行调节的调节机构，右侧所述竖板上设有固定件。本实用新型通过设置调节机构，可以使得检测器稳定的深入轴深孔处，配合固定件，可以对轴进行固定，防止晃动，进而保证检测结果的准确性。

基本信息

专利标题：

一种细长轴深孔壁厚测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021385602.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-10

授权号：

CN212620650U

授权日：

2021-02-26

发明人：

董晶晶

申请人：

深圳职业技术学院

申请人地址：

广东省深圳市南山区留仙大道7098号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021385602.0

主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

G01B21/08