壁厚测量仪

授权

摘要

本实用新型提供了一种壁厚测量仪，包括支撑杆及设置于支撑杆的发射单元和探测单元。支撑杆设置于一基台，包括自基台向上的第一部分、第二部分及第三部分，第一部分的一端固定在基台上，另一端通过一倾斜轴连接第二部分的一端，第二部分的另一端通过一旋转轴连接第三部分，且第三部分设置有滑轨槽。发射单元包括第一滑块、第一连杆及射线机，第一滑块设置于滑轨槽，第一连杆贯穿第一滑块且射线机设置在第一连杆的一端。探测单元包括第二滑块、第二连杆及射线探测器，第二滑块设置于滑轨槽，第二连杆贯穿第二滑块且射线探测器设置在第二连杆的一端。其中发射单元和探测单元设置在旋转轴的两侧，射线机和射线探测器设置在支撑杆的同侧。

基本信息

专利标题：

壁厚测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021349644.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-10

授权号：

CN212228000U

授权日：

2020-12-25

发明人：

丁菊刘书宏袁奕雯

申请人：

上海市特种设备监督检验技术研究院

申请人地址：

上海市普陀区金沙江路915号1号楼504

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

曹廷廷

优先权：

CN202021349644.9

主分类号：

G01B15/02

IPC分类号：

G01B15/02