微米级颗粒样品自动寻找定位装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种微米级颗粒样品自动寻找定位装置，其包括单通道视频显微单元、数字图像处理单元、多维度电控位移载台和可编程电控位移驱动单元，用于自动寻找合适的微颗粒样品，以配合主测试仪器上的其它模块对寻找到的微颗粒样品进行所需性能的测试；利用本实用新型微米级颗粒样品自动寻找定位装置，通过沿遍历路径扫描式自动样品寻找，以找到即测、测完继续寻找的方式进行在线实时测量，能极大地提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
微米级颗粒样品自动寻找定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021390698.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-15
授权号 ：
CN212364002U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
张志兵孙鹏张志华李华峰叶晓东王容川刘东汪志焕孔令成
申请人 ：
常州先进制造技术研究所;伯明翰大学
申请人地址 ：
江苏省常州市武进区常武中路801号
代理机构 ：
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
代理人 ：
何梅生
优先权 ：
CN202021390698.X
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N21/84 G01N21/88 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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