一种快速检测的光阻法粒度仪
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摘要

本实用新型公开了一种快速检测的光阻法粒度仪,包括粒度仪主体,所述粒度仪主体正面的左侧设有显示屏,所述显示屏的下方设有控制开关,所述粒度仪主体正面的右侧开设有凹口,所述凹口的内部设有检测器,所述检测器与凹口内壁通过固定架固定连接,所述检测器的顶部设有输入管,所述检测器内部的上部设有第一漏斗,所述第一漏斗的底部连接有底盘,所述底盘的上表面设有多个条形槽,所述条形槽的内部设有通道,所述通道贯穿底盘,所述检测器内部的下方设有第二漏斗,该快速检测的光阻法粒度仪,通过设有三根输入管,以及多个通道,增加需要检测的颗粒的数量和流动的速率,从而提高了检测的效率。

基本信息
专利标题 :
一种快速检测的光阻法粒度仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021448893.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-21
授权号 :
CN212540055U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
韩广乾柳钟丽杨涛
申请人 :
上海胤煌科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区万祥镇宏祥北路83弄1-42号20幢118室
代理机构 :
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张静
优先权 :
CN202021448893.3
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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