一种多FPGA平台的软件测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种多FPGA平台的软件测试系统，涉及测试技术领域，该软件测试系统包括上位机，第一FPGA芯片及其相连的网口和第一SRIO接口形成的FPGA转接平台，依次连接的第二SRIO接口、DDR3存储器以及第二FPGA芯片形成的FPGA核心处理平台，上位机连接FPGA转接平台的网口，FPGA转接平台的第一SRIO接口连接FPGA核心处理平台的第二SRIO接口，该整个系统以FPGA芯片为核心，再辅以千兆网口、DDR3和SRIO接口等各类外设，避免了核心处理平台因外设不足而引起测试不便的问题，使得整个系统更加灵活、适应性更强，且可以提高数据传输的高速性和稳定性。

基本信息

专利标题：

一种多FPGA平台的软件测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021452597.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-21

授权号：

CN212569756U

授权日：

2021-02-19

发明人：

李付庭盛沨魏一平

申请人：

无锡国芯微电子系统有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市建筑西路777号蠡园开发区无锡国家集成电路设计中心A7幢

代理机构：

无锡华源专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

过顾佳

优先权：

CN202021452597.0

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36 G06F11/30