一种基于ARM处理器的双脉冲测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于ARM处理器的双脉冲测试系统，包括：上位机，用于提供控制信号；控制器，用于根据所述控制信号控制高分辨率计时器生成第一脉冲信号和第二脉冲信号；驱动装置，用于对所述第一脉冲信号进行功率放大处理得到第一放大脉冲信号、对所述第二脉冲信号进行功率放大处理得到第二放大脉冲信号；电平转换装置，用于将所述第一放大脉冲信号转换成高电平的第一输出脉冲信号、将所述第二放大脉冲信号转换成高电平的第二输出脉冲信号。本实用新型在有限主频的前提下，通过高分辨率计时器仍能提供需求的脉冲精度，同时本实用新型提供的脉冲信号经过放大、电平转换处理，具有更强的抗干扰能力。
基本信息
专利标题 ：
一种基于ARM处理器的双脉冲测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021457474.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-22
授权号 ：
CN212932853U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
杨成何雄孙利娟熊先平张玉龙
申请人 ：
湖北英特利电气有限公司;北京英特利科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省荆门市钟祥市南湖新区协企联盟产业园C3栋
代理机构 ：
北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱玲艳
优先权 ：
CN202021457474.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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