基于ARM处理器的多通道TR组件测试系统
授权
摘要
本发明公开了基于ARM处理器的多通道TR组件测试系统,包括TR组件通用测试设备模块、多通道开关网络、ARM控制系统和TR组件自动化测试系统;TR组件通用测试设备模块包括功率计、示波器、噪声源、信号源、矢量网络分析仪、频谱仪;多通道开关网络包括射频微波控制开关、柔性射频电缆、控制电路;ARM控制系统包括串口通信设备、ARM处理器、串并转换接口、组件控制接口和开关网络控制接口;TR组件自动化测试系统包括计算机、GPIB控制线、USB传输线;本发明提供了可以高效、灵活的实现TR组件的收发状态控制,自动完成测试通道的选择,并根据测试指标要求,快速切换测试链路,选择相应的测试设备的基于ARM处理器的多通道TR组件测试系统。
基本信息
专利标题 :
基于ARM处理器的多通道TR组件测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111141963A
申请号 :
CN201911327271.7
公开(公告)日 :
2020-05-12
申请日 :
2019-12-20
授权号 :
CN111141963B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
郁发新宣银良丁旭张兵
申请人 :
杭州臻镭微波技术有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢502室
代理机构 :
杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
董世博
优先权 :
CN201911327271.7
主分类号 :
G01R27/28
IPC分类号 :
G01R27/28 G01R23/16 G01R1/30 G01R1/28 G01S7/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/28
衰减、增益、相移或四端网络,即双端对网络的派生特性的测量;瞬态响应的测量
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-01-01 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01R 27/28
变更事项 : 申请人
变更前 : 杭州臻镭微波技术有限公司
变更后 : 浙江臻镭科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310030 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢502室
变更后 : 310000 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢502室
变更事项 : 申请人
变更前 : 杭州臻镭微波技术有限公司
变更后 : 浙江臻镭科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310030 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢502室
变更后 : 310000 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢502室
2020-07-21 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01R 27/28
变更事项 : 发明人
变更前 : 郁发新 宣银良 丁旭 张兵
变更后 : 宣银良 张兵 康宏毅
变更事项 : 发明人
变更前 : 郁发新 宣银良 丁旭 张兵
变更后 : 宣银良 张兵 康宏毅
2020-06-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/28
申请日 : 20191220
申请日 : 20191220
2020-05-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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