一种用于多功能微波组件的自动测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于多功能微波组件的自动测试系统，其包括：控制装置、测量装置和组件控制平台，控制装置包括：控制模块、数据读取模块和触摸显示屏；组件控制平台与测量装置连接，测量装置与控制模块连接，控制模块还分别与组件控制平台和触摸显示屏连接，数据读取模块与测量装置、控制模块和触摸显示屏连接；组件控制平台用于夹持待测微波组件，触摸显示屏用于设置待测微波组件类别、工作模式以及工作参数，控制模块用于将工作模式和工作参数发送至组件控制平台，以发送至待测微波组件和测量装置，测量装置用于测试待测微波组件在工作模式及工作参数下的工作指标信息；控制模块用于控制数据读取模块读取工作指标信息，以发送至触摸显示屏。
基本信息
专利标题 ：
一种用于多功能微波组件的自动测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021463766.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-23
授权号 ：
CN213041952U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
周进
申请人 ：
石家庄军特电子科技有限公司
申请人地址 ：
河北省石家庄市桥西区新石北路368号2号楼408室
代理机构 ：
石家庄德皓专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘磊娜
优先权 ：
CN202021463766.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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