微波器件再封装装置、自动测试系统及方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种微波器件再封装装置、自动测试系统及方法。再封装装置,包括底座、上压盖与压紧机构;所述底座被配置为与所述上压盖扣合;所述底座被配置为包括底板,所述底板被配置为朝向所述上压盖的一面设置有转换线路及安装位;所述安装位被配置为用以安装所述微波器件;所述转换线路被配置为用以连接位于安装位上的所述微波器件的引脚与外部测试探针;压紧机构被配置为设置在所述上压盖上,且当所述上压盖与所述底座扣合时,接触所述微波器件并对所述微波器件进行压紧。本申请提供的微波器件再封装装置、自动测试系统及方法,解决了多品种微波器件封装形态不一、尺寸各异的问题,提高测试效率、测试精度,有利于实现自动化测试。

基本信息
专利标题 :
微波器件再封装装置、自动测试系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460390A
申请号 :
CN202111558061.6
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马帅帅肖苗苗李静王泽楠
申请人 :
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
孙晓凤
优先权 :
CN202111558061.6
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211217
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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