一种大规模组件自动测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种大规模组件自动测试系统,属于组件测试技术领域。包括测试工装、网络交换机、数据处理与控制单元及频谱仪;测试工装包括第一测试双工器、第二测试双工器、第一开关、第二开关、第三开关、第一射频继电器、第二射频继电器、放大器以及两个衰减器等,通过开关切换不同链路,对组件产品的多项指标进行高效、快捷的自动化测试,创建测试报告并存储。本实用新型通过将各种线损、温度波动系数、幅频特性等统一建立对应的函数关系表,使测试使用过程中的功率值稳定,避免了因功率值变化导致通道间性能指标不一致,提高了通道间指标测试的准确度。该测试系统操作简单、效率高、误差小、通用性强,适用于大规模微波组件的批量测试。
基本信息
专利标题 :
一种大规模组件自动测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122866144.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-22
授权号 :
CN216485244U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
王志龙王鑫亮冀云成王文闯杨凯李其强王新
申请人 :
中国电子科技集团公司第五十四研究所
申请人地址 :
河北省石家庄市中山西路589号第五十四所航天部
代理机构 :
河北东尚律师事务所
代理人 :
王文庆
优先权 :
CN202122866144.3
主分类号 :
G01R23/16
IPC分类号 :
G01R23/16 G01R27/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置;频谱分析装置
G01R23/16
谱分析;傅立叶分析
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载