一种高精度测量校准装置
授权
摘要
本实用新型公开一种高精度测量校准装置，其包括基座、滑动连接于基座的探测头、与探测头相对固定的活动端子，以及固定于基座上的固定端子；所述固定端子与活动端子对向布置；所述探测头用于与被测物体的测量点抵接，以带动活动端子与固定端子接触导通或分离断开信号。本实用新型操作简单、成本低、精度高、结构紧凑。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度测量校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021478317.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-22
授权号 ：
CN212363079U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
刘建辉
申请人 ：
深圳中科精工科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观湖街道樟坑径社区五和大道308号B栋厂房501（侨安科技园）
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
彭西洋
优先权 ：
CN202021478317.3
主分类号 ：
G01B7/06
IPC分类号 ：
G01B7/06 G01B7/34
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B7/06
用于计量厚度
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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