一种光学器件的表平面的角度测量装置

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摘要

一种光学器件的表平面的角度测量装置，依次排列有：反射光接收屏、准直器装置、旋转测试夹具；所述准直器装置，包括：准直器固定台、固定在所述准直器上方的准直器主体；所述旋转测试夹具，包括：T型固定底座、中心定位固定夹具、球头柱塞；所述中心定位固定夹具通过所述所述球头柱塞固定在所述T型固定底座上；所述中心定位固定夹具用于固定被测元件。本实用新型通过旋转装置将被测元件旋转180°，测量出两次反射光在光屏的距离，就能准确测量计算出待测元件的表平面与垂直线之间的角度。测试时使用方便，测试工时少，可以快速准确的测量出待测元件的角度。

基本信息

专利标题：

一种光学器件的表平面的角度测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021543969.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-30

授权号：

CN212931346U

授权日：

2021-04-09

发明人：

张芬叶文辉陈建林

申请人：

福建华科光电有限公司

申请人地址：

福建省福州市福兴经济开发区福兴大道20号

代理机构：

福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙)

代理人：

范小清

优先权：

CN202021543969.0

主分类号：

G01B11/26

IPC分类号：

G01B11/26